宏觀斷口分析系統(tǒng)——

金屬斷口分析是研究金屬斷裂面的學(xué)科，是斷裂學(xué)科的組成部分。金屬破斷后獲得的一對相互匹配的斷裂表面及其外觀形貌。斷口總是發(fā)生在金屬組織中薄弱的地方，記錄著有關(guān)斷裂全過程的許多珍貴資料，所以在研究斷裂時，對斷口的觀察和研究一直受到重視。

斷口分析的實驗基礎(chǔ)是對斷口表面的宏觀形貌結(jié)構(gòu)特征進行直接觀察和分析。對斷口進行宏觀觀察。在很多情況下,利用宏觀觀察就可以判定斷裂的性質(zhì)、起始位置和裂紋擴展路徑。但如果要對斷裂起點附近進行細致研究，分析斷裂原因和斷裂機制，還必須進行微觀觀察。

宏觀斷口分析系統(tǒng)——

目前大多數(shù)通過體式顯微鏡來對金屬斷口宏觀形貌進行觀察，小試樣斷口可以通過體式顯微鏡進行觀察拍照、分析，可是較大的斷口就無法觀察分析、拍照了，我公司根據(jù)用戶需求，研發(fā)了一款斷口宏觀形貌分析的，斷口分析測量系統(tǒng)。能夠?qū)Υ笮蛿嗝鏀嗫谶M行光學(xué)采集分析、測量。

技術(shù)參數(shù)

1. 光學(xué)系統(tǒng)：機器視覺光源（根據(jù)試樣斷口大小選擇不同光源）
2. 視場范圍：大視場400mm直徑
3. 操作系統(tǒng)： win10等。
4. 精度0.01mm
5. 可對斷口形貌清晰拍照，
6. 可保存試樣斷口形貌圖片
7. 計算機自動計算試樣分析結(jié)果，可打印試驗報告。
8. 外型尺寸：600mm×600mm×1500mm（長×寬×高）（具體尺寸以事物為準(zhǔn)）
9. 總功率：200W
10. 電源：220V
11. 環(huán)境條件：周圍環(huán)境無腐蝕介質(zhì)，無震動，無強電磁場干擾．